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全反射X射线荧光光谱仪S2 Picofox，是一款新型便携式超高灵敏度的台式全反射X射线荧光分析系统(TXRF)，可定量元素浓度从0.1 ppb至％水平。
X射线荧光光谱分析法(XRF)的原理：原子受原级X射线激发后，发出次级X射线荧光。因此，XRF 分析法可以：
各元素的浓度可根据荧光的强度进行计算。
X射线由Mo靶或W靶产生，在Ni/C人工多层膜上反射并单色化。扁平的光束以非常小的角度(0.3 – 0.6 °)掠射装有样品的样品架，并产生全反射。样品所产生的特征荧光被能量色散探测器(XFlash® detector) 探测，强度通过偶合的多通道分析器测量。
与常规的XRF最大的不同，全反射荧光（TXRF）是使用了单色光和全反射光学部件。以全反射光束照射样品，降低了吸收、以及样品及衬底材料对光的散射。结果是大大降低了背景噪音，因此有高的多的灵敏度和明显地降低了基体效应。
全反射荧光(TXRF)的最主要优点是，相对于其他原子波谱分析法，如AAS 或 ICP-OES，无记忆效应。
全反射荧光分析法，样品必须制备在能全反射X射线的样品架上。因此，样品架的直径30mm，材料通常是丙烯酸或石英玻璃。
液体样品直接滴在样品架上，通常是使用微量移液管转移几微升（µl）试液到样品架上。然后在干燥器里蒸发或在烘箱中干燥。
固体样品，有不同的制样方法。粉末样品（悬浮质、土壤、矿物、金属、色素、生化样品，等等）可以把样品直接放在样品架上直接测量。典型的方法是，使用小勺或无尘纸转移几微克（µg）的样品到样品架上。
单个的微量样品（颗粒，长条等）也可以用类似的方法直接制样。
另外，粉末样品可以使用挥发性溶剂如丙酮或甲醇制成悬浮液，悬浮液用移液管转移到样品架上，还可以使用微波消解的办法。
